AIプラットフォーム「TAiVIS」を提供開始

東京エレクトロン デバイス株式会社(以下、TED)は、AI外観検査を低コスト、短期間で実現し、企業の生産性向上を実現するAIプラットフォーム「TAiVIS(タイビス)」を、2019年6月27日より受注を開始した。


TAiVIS:TED Ai Visual Inspection System
URL: https://www.teldevice.co.jp/ted_real_iot/solution/ai_solution/

AI外観検査を低コスト、短期間で実現し、生産性向上に寄与

生産現場では、不良品の流出防止のため、さまざまな検査システムを導入しているが、判定精度の継続的な向上や過検出などが課題となっており、これらの対策として目視検査を併用している。

「TAiVIS」は、ディープラーニングの識別技術を生かし、カメラで撮影した検査対象物の画像の特徴から良品・不良品の判定(推論)を自動で行う。

そのため個体差がある製品の検査や、汚れや色ムラを見る官能検査、過検知の判断など、これまで目視検査に頼っていた判定を自動化し、省人・省エネに貢献。AIによる学習を繰り返すことで、不良品の判定精度も向上する。

また、複数の検査対象物を個別に推論処理(検査)する当社独自技術により、複数の製品が流れてくるラインで検査が可能になり、システム導入や運用のコストの削減と、検査効率の向上に寄与する。

不良品の流出を防ぎ、過検知の軽減を実現するAI検査システムを、低コスト、短期間で導入することで、生産効率の向上とコスト削減が可能となる。TEDでは、製造業、食品、医療、自動車、産業機器向けに、2022年までに10億円の販売を見込んでいる。

AIプラットフォーム「TAiVIS」の基本構成

・FA PC
・外観検査アプリケーション
(産業用カメラ、照明等はオプションにて対応)

AIプラットフォーム「TAiVIS」の機能・特徴

・エッジでの推論に特化した外観検査アプリケーションを搭載
・CPUと内蔵GPUの活用による高速推論処理
・カメラ画像のキャプチャ機能による学習用素材の収集
・AI推論の判定結果と画像の保存、統計情報の取得
・2台のカメラによる複雑な物体の判定
・外観検査アプリケーションのセミカスタム対応(有償)
・産業用途、組み込み用途向け量産対応
・Microsoft Azure 各種サービスと連携したソリューションの提供(有償)

「TAiVIS」導入の流れ

紹介動画:https://www.youtube.com/watch?v=0X-Kj767jEQ
ホワイトペーパー:https://www.teldevice.co.jp/ted_real_iot/whitepaper/ai_platform/

問い合わせ
東京エレクトロン デバイス株式会社
Tel:045-443-4017
https://survey.zohopublic.com/zs/85B5Ue

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