AIによる外観検査「DEEPS」を運営する株式会社パトスロゴスは、外観検査自動化の対象製品の広がりに合わせて、4Kや8Kといった高解像度のラインカメラで撮像した画像を高速検出できる機能アップデートを行った。
高解像度／高速対応
DEEPSは、少ないサンプルから簡単操作でAIモデルを作成し、微細な欠陥に対しても正確な欠陥検出を実現してきた。
近年では、カメラやレンズなど画像機器の高性能化により高い解像度でミクロン単位の傷を捕らえることが可能となっている一方、システムが高解像度に対応していないケースや、対応できても画像処理に時間がかかり生産サイクルに見合わないといった課題が見受けられた。
今回のアップデートにより、検査自動化を見送らざるを得なかった大型製品や精密機器類に対する高速判定が可能となる。
対応ワーク例
今回の対応により、次のような特徴をもった検査対象品の判定が可能となる。
・30cmを超える長尺製品
・半導体など精密機器
・ルーペや顕微鏡でのみ視認が可能な欠陥
・10ミクロンの細かい傷
詳細はこちら：https://www.deeps.pathoslogos.co.jp/
■問い合わせ
株式会社パトスロゴス
https://www.pathoslogos.co.jp/
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