～不良品の流出を防ぎ過検出を低減～
東京エレクトロン デバイス株式会社（以下、TED）は、AI検査システムを低コスト、短期間で実現し、不良品の流出を防ぎ過検出を低減する「TED AIプラットフォーム」を開発した。2019年4月10 日～12日に開催されるIoT/M2M展2019春（東京ビッグサイト）に出展（小間番号：西22-36）する。
TED AIプラットフォームについて
今回TEDは、AI 技術を活用して画像判定を行うディープラーニングの推論機能を実装した産業用PCを、IoT Edge コンピューティングのアプライアンス（ベースキット）として使用する「TED AIプラットフォーム」を開発した。学習環境はオンプレミス単体運用のほか、パブリッククラウド（Microsoft Azure） との連携もサポートする。
「TED AIプラットフォーム」では、ディープラーニングを用いた識別技術により検査対象物の特徴から判別が行えるため、個体差がある対象物の判別、位置のバラつきへの対応、官能検査など、さまざまな用途での利用が可能である。複数の検査対象物を個別に推論処理する当社独自技術により、複数の製品が同時に流れてくるラインでの活用が可能になり、検査効率が向上する。
複数の対象物の検査イメージ
また、推論処理の高速化を実現するためにインテルのディープラーニングのツールキット「OpenVINO™」を用いることで、AI検査システムを、低コスト、短期間で実現する。目視検査からの置き換えや、自動検査装置と併用してダブルチェックや過検知対策としての需要を見込んでいる。今後も、お客様の用途に柔軟に対応するセミカスタムのAI検査ソリューションの提供に向けて、開発を継続していく。
東京エレクトロン デバイス株式会社
クラウドIoTカンパニー IAソリューション部
TEL：045-443-4017
E-mail：intel@teldevice.co.jp
URL：https://www.teldevice.co.jp/
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